DXF-Overlay ist eine intelligente Digitalmikroskop-Software, mit der Sie bei der Qualitätskontrolle in der Elektronik bestimmte Leiterplattenkomponenten in Sekundenschnelle finden können. Um Ihre Effizienz und die gesamte Produktionskapazität zu optimieren, ersetzt diese TAGARNO-Digitalmikroskop-Anwendung sonst mühsame Prozesse.
Anstatt manuell zu versuchen, eine bestimmte Leiterplatten-Komponente zu finden, geben Sie einfach den Komponentennamen in die Suchleiste der Anwendung ein und die App findet sie in Sekundenschnelle für Sie.
Um die Effizienz weiter zu verbessern, fügen Sie Nachbearbeitungsanweisungen in die DXF-Datei ein, um bei der Nachbearbeitung von Leiterplattenchargen zusätzliches Material an der Arbeitsstation zu vermeiden.
Diese Anwendung erfordert den Gebrauch einer Maus und einer Tastatur. Für die besten Ergebnisse empfehlen wir auch die folgende Ausrüstung: Fußschalter und XY-Tisch.
Funktionen
Komponenten mit der Suchleiste finden
Geben Sie einen Komponentennamen in die Suchleiste ein – oder nur Teile des Namens, wenn Sie dies wünschen. Alle Suchergebnisse werden auf dem Monitor hervorgehoben, damit Sie sie leicht finden können.
Vergrößern und Verkleinern bei aktivierter DXF-Datei
Beim Vergrößern oder Verkleinern folgt die DXF-Datei der Größe der Leiterplatte unter dem Digitalmikroskop und richtet sich entsprechend aus.
Teile der DXF-Datei ein-/ausblenden
Wenn eine DXF-Datei mehr als eine Ebene enthält, kann jede Ebene einzeln ein-/ausgeblendet werden.
Farbe der Ebenen anpassen
Um die DXF-Datei so sichtbar wie möglich zu machen, können Sie beim Ändern der Farbe jeder Ebene in der Datei zwischen 24 Farben wählen.