Das Discovery Xenon Flash (DXF)-Modul nutzt eine High Speed Xenon-Pulse Delivery (HSXD)-Quelle, die bei erheblich niedrigeren Kosten und geringerem Wartungsaufwand als bei einem Laser gleichwertige Ergebnisse erzielt. Die reflektierende Konstruktion sorgt für die effektive Nutzung der Xenon Flash-Röhre, deren Leistung über eigens entwickelte Lichtwellenleiter zur Probe im Inneren des Umweltmoduls geführt wird. Die Pulsbreite des DXF ist kürzer (400 bis 600 μs) als die vieler kommerzieller Lasersysteme und überträgt dennoch gleichmäßig ausreichende Energie auf die gesamte Oberfläche der Probe. Aufgrund dieser optimierten optischen Konstruktion und des breiten Lichtspektrums können Proben bis zu einem Durchmesser von 25 mm mit ausreichend Energie für eine hochpräzise Messung beleuchtet werden. Die Analyse großer Proben reduziert durch Inhomogenität verursachte Fehler und ermöglicht repräsentative Messungen schlecht dispergierter Komposite.
Das DXF deckt den am häufigsten verwendeten Temperaturbereich zwischen Raumtemperatur und 900 °C ab. Es eignet sich für Forschungs- und Entwicklungsprogramme ebenso wie für die Produktionskontrolle.