Die Discovery Xenon Flash-Lichtquelle (DXF) arbeitet mit einer Hochgeschwindigkeits-Xenon-Impulslichtquelle (HSXD), die deutlich kostengünstiger ist als ein Laser, weniger Wartung erfordert und vergleichbare Ergebnisse liefert. Die reflektierende Optikkonfiguration unserer Konstruktion nutzt die Leistung der Xenon Flash-Röhre effektiv und überträgt diese mit proprietären Wellenleiterführungen auf die Probe im Umweltmodul. Die DXF-Röhre liefert Impulse, deren Breite kürzer ist als bei vielen handelsüblichen Lasersystemen (400 µs bis 600 µs) und konzentriert eine ausreichende Leistung aus der Blitzlichtquelle einheitlich direkt auf die gesamte Probenfläche. Aufgrund dieser optimierten optischen Anordnung und des breiten Lichtspektrums können Proben bis zu 25 mm Durchmesser mit ausreichender Energie bestrahlt werden, um eine hochgenaue Messung durchzuführen. Der Einsatz großer Proben minimiert Fehler durch Inhomogenitäten und erlaubt repräsentative Messungen bei schlecht verteilten Verbundmaterialien.
Die DXF-Röhre mit dem am häufigsten benötigten Temperaturbereich von -150 °C bis +900 °C eignet sich für Forschungs- und Entwicklungsprogramme genauso wie zur Produktionskontrolle.