Die Quarzkristall-Mikrowaage QCM200 misst Masse und Viskosität in Prozessen, die an oder in der Nähe von Oberflächen oder in dünnen Schichten stattfinden. Dieses System umfasst einen Controller, eine Quarzoszillator-Elektronik, einen Kristallhalter, drei Quarze und eine Windows-Software.
Das Gerät misst die Resonanzfrequenz und den Widerstand eines 5-MHz-Quarzes mit AT-Schliff. Die Resonanzfrequenz ändert sich als lineare Funktion der Masse des auf der Kristalloberfläche abgelagerten Materials. Der Widerstand bei der Resonanz ändert sich mit der Viskosität/Elastizität des Materials (Film oder Flüssigkeit), das mit der Kristalloberfläche in Kontakt ist.
Als gravimetrisches Instrument kann das QCM200 Massen im Bereich von Mikrogramm bis zu Bruchteilen eines Nanogramms messen. Die Nachweisgrenzen entsprechen Submonolayern von Atomen. Beobachtungen von Konformationsänderungen wie Phasenübergänge, Quellung und Vernetzung sind leicht durchführbar.
Die Geräte sind speziell für hohe Belastungen (bis zu 5 kΩ) ausgelegt und eignen sich für verlustbehaftete Filme und hochviskose Flüssigkeiten.
Das QCM200 ist ein eigenständiges Gerät mit einem eingebauten Frequenzzähler und Widerstandsmesser. Serienresonanzfrequenz und -widerstand werden gemessen und angezeigt, und es gibt einen zur Frequenz proportionalen Analogausgang, der als Schnittstelle zu einem Potentiostaten verwendet werden kann. Das QCM200 kann über die Frontplatte oder einen PC über die RS-232-Schnittstelle bedient werden. Für die Echtzeit-Datenerfassung, -Anzeige, -Analyse und -Speicherung steht eine Windows-Software zur Verfügung. Es können sowohl Frequenz- als auch Widerstandstrends angezeigt werden. Wichtige Ereignisse werden mit Zeitstempeln versehen.
---