Rasterelektronenmikroskop ECHO VS™
IndustrieDigitalkameraSAM für Wafer

Rasterelektronenmikroskop - ECHO VS™ - Sonix - Industrie / Digitalkamera / SAM für Wafer
Rasterelektronenmikroskop - ECHO VS™ - Sonix - Industrie / Digitalkamera / SAM für Wafer
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Eigenschaften

Typ
Rasterelektronen
Anwendungsbereich
Industrie
Weitere Eigenschaften
Digitalkamera, SAM für Wafer

Beschreibung

Um die kleinsten und meisten subtilen Defekte in leading-edge verpackten Mikroelektronischen Anwendungen zu kennzeichnen, schließt ECHO GEGEN Standardausrüstungen wie geheiztes Wasser für optimale akustische Koppelung, flexibles TAMI für leistungsfähige Sicherung der nützlichsten Daten, Wellenform, die für ein verbessertes störsignalisierendes Verhältnis Durchschnitt berechnen, EISBERG für verbesserte Bildqualität und MFCI für erhöhte Bildqualität in den forderndsten Anwendungen ein. ECHO GEGEN ist die akustische Lösung der entscheidenden Abtastung für geformten Schlagspan, CSP, MCM, Staplungswürfel, MUF und anderes fortschrittliche Verpackentechnologien. Ermittelt Luftdefekte so dünn wie 0.01 Mikron und behebt räumlich Defekte unten zu 5 Mikrons. Bild-Verbesserung Suite mit geheiztem Wasser, Wellenformsimulation und anderen Innovationen für Industrie-führende Bildqualität in vorgerückten verpackenanwendungen Bildoptimierung für verbesserte Bildqualität in den komplizierten geformten Schlagspänen (MUF) und in den Paketen mit polyimide Schichten Wellenform, die für verbessertes störsignalisierendes Verhältnis Durchschnitt berechnet Signalumformer von 15MHz bis 300MHz, in-house entworfen und zusammengebracht, um alle Arten Anwendungen und Materialien zu adressieren Staplungswürfel-Belichtung (SDI) (wahlweise freigestellt) Geformte Schlag-Span-Belichtung (MFCI)

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.