Das ModuLab® XM MTS-System der neuesten Generation wurde mit Blick auf Modularität und Flexibilität entwickelt, um ein breites Anwendungsspektrum zu ermöglichen. Speziell für die Materialprüfungsforschung des ModuLab XM entwickelt:
- I-V (Spannungsabtastungen mit Strommessung - zur Charakterisierung von elektronischen und dielektrischen Materialien)
P-E (Polarisation / elektrisches Feld - zur Durchführung von Hysteresetests zur Charakterisierung ferroelektrischer Materialien)
- Hochgeschwindigkeitsimpuls (zur Aktivierung von Ladungsträgern in elektronischen und dielektrischen Materialien)
- Treppenhaus und glatte, stufenlose analoge Rampenwellenformen
- Impedanz, Admittanz, Permittivität / Kapazität, elektrischer Modul
- C-V-Kapazität - Spannung, Mott-Schottky
- Automatische Sequenzierung von Zeitbereichs- und Impedanz-/Kapazitätsmessungen
ModuLab XM MTS ist in der Lage, alle oben genannten Techniken zur Aktivierung und Analyse von Ladungsträgern automatisch zu sequenzieren, ohne die Probenverbindungen zu verändern. Die Temperaturregelung ist ebenfalls über Kryostate, Öfen und Sondenstationen in die Software integriert.
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