Materials Lab XM ist ein anwendungsspezifisches XM (Xtreme Measurement) Produkt, das sich hauptsächlich auf die Materialforschung konzentriert.
Das Produkt Materials Lab XM bietet eine vollständig integrierte Zeitbereichs- und Wechselstrommessplattform mit Referenzqualität. Es ist nicht erforderlich, die Probenverbindungen zwischen den Techniken zu wechseln. Zeitbereichsmessungen umfassen I-V-Charakterisierung (Stromspannung) sowie schnelle Impulstechniken. Die AC-Prüftechniken reichen von der Einzel-Sinus-Analyse über die Multisinus- und Fast-Fourier-Transformation für eine schnellere Niederfrequenzanalyse bis hin zu Oberwellen und Intermodulation zur Prüfung der Linearität und des Materialaufbaus. Messungen der elektrischen Impedanzspektroskopie (EIS), Admittanz, Permittivität und Kapazität werden von der MTS-Softwareplattform XM-studio sowie der integrierten Analysefunktionalität für Ersatzschaltungen bereitgestellt.
Zeitbereichs- und AC-Tests können in Testsequenzen kombiniert und sofort umgeschaltet werden, so dass DC- und Pulswellenformen Ladungsträger aktivieren können, gefolgt von einer EIS-Analyse der aktivierten Träger. Diese eng verbundene Integration ist nur mit dem Materials Lab XM möglich. Zu den Messungen gehören:
- I-V (Spannungsabtastungen mit Strommessung - zur Charakterisierung von elektronischen und dielektrischen Materialien)
- P-E (Polarisation / elektrisches Feld - zur Durchführung von Hysteresetests zur Charakterisierung ferroelektrischer Materialien)
- Hochgeschwindigkeitsimpuls (zur Aktivierung von Ladungsträgern in elektronischen und dielektrischen Materialien)
- Treppenhaus und glatte, stufenlose analoge Rampenwellenformen
- Impedanz, Admittanz, Permittivität / Kapazität, elektrischer Modul
- C-V-Kapazität - Spannung, Mott-Schottky
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