Metallanalysator EDX2000A

für ElektronikDickenSchichtdicken

Der EDX2000A Automatic Micro-area Film Thickness Analyzer ist ein speziell von Skyray entwickeltes Spitzengerät zur Messung der Schichtdicke das speziell von Skyray entwickelt wurde und die langjährige Erfahrung in der XRF-Schichtdickenmessung widerspiegelt. Verglichen mit dem traditionellen Schichtdickenmessgerät ist es nicht nur für die herkömmliche Beschichtung besser geeignet, sondern auch für die berührungslose Prüfung der Schichtdicke im Mikrobereich in der Halbleiter-, Chip- und PCB-Industrie. Das Gerät sieht elegant aus und ist einfach zu bedienen. Durch die automatische dreidimensionale Bewegung der Plattform entlang der X-, Y- und Z-Achse, die doppelte Laserpositionierung und das Sicherheitsschutzsystem kann es eine schnelle Fokussierung und genaue Analyse verschiedener einfacher und komplexer Proben wie ebener, konkav-konvexer, eckiger und bogenförmiger Oberflächen realisieren. Anwendungsbereich GalvanotechnikIndustrie Elektronische Kommunikation Automobilherstellung Magnetische Materialien Neue Energie für die Luft- und Raumfahrt Eisenwaren und Sanitärprodukte Elektrische Ausrüstung EdelmetallGalvanik