Probecard

Vertikale Sondenkarten ermöglichen "Multi-Die-Messungen" und "Full-Wafer-Messungen" und überwinden damit die Einschränkungen von Cantilever-Sondenkarten. Unsere Sondenkarten eignen sich perfekt für WL-CSP- und FlipChip-Anwendungen und unterstützen mühelos Elektroden mit geringem Abstand und Gitteranordnung, wobei unsere fortschrittliche Technologie auch besondere Bedingungen wie hohe Ströme, Nichtmagnetismus, hohe Hitzebeständigkeit und vieles mehr bewältigt. Für Testeranschlüsse können Sie zwischen der direkten Montage auf einer speziellen Platine oder der Verdrahtung auf einer Universalplatine wählen. Bei Seiken wird jedes Produkt sorgfältig auf Ihre individuellen Anforderungen abgestimmt, um eine zuverlässige Leistung in einer Vielzahl von Umgebungen zu gewährleisten. Unsere maßgeschneiderten Lösungen sind so konzipiert, dass sie konsistente und genaue Ergebnisse für alle Ihre Prüfanforderungen liefern. Sie haben Fragen oder benötigen eine maßgeschneiderte Lösung? Kontaktieren Sie uns jederzeit - wir sind für Sie da!