Testsystem für die Elektronik Compact Digital

Die neuesten Innovationen in den digitalen Komponenten erfordern eine hoch entwickeltere digitale Prüfvorrichtung, die Fähigkeiten kennzeichnet, die über den einfachen Logikanalysator hinausgehen. Industrielle Herstellung erfordert erreichbare Fertigungsgenauigkeiten auf dem Hardware-Niveau, Testzeiten zu beschleunigen. Gleichzeitig fahren die neuen Logikfamilien, basiert auf variablen Spannungspegeln der Aufmachung und den einzelnen oder differenzialen Signalen fort, diese sogar komplexen zu machen. Die Prüfvorrichtung, die als kompaktes Digital-Test-System (DTS) gekennzeichnet wird Next>series ist Seica-Antwort zur konstanten Nachfrage nach prüfenden integrierten Geräten über Vektor-ansässige Techniken und engagierten Protokollen wie Grenzscan, ohne den Bedarf auszuschließen, den Test schaltungsintern zu kombinieren auch. ATE Resources – IuK und Funktionsprüfung Wie jede mögliche andere Seica-Lösung benutzt das kompakte Testsystem DTS Next>series, die Promi-Plattform, deren Hauptmerkmal die Möglichkeit ist, zum der besten Integration der Technologie und der Leichtigkeit des Gebrauches zu liefern und den Benutzer mit allen Fähigkeiten versieht, die schaltungsintern für beide und Funktionsprüfung ohne notwendigerweise ein Experte zu sein erfordert werden. Dieses ist mögliche dank das innovative Maßsystem (basiert auf eigenem Modul ACL) und der VIVA-Management-Software. Das erste, eingeführt auf DSP-Technologie, integriert alle Prüfungsfähigkeiten beim Ermöglichen der voll-automatisierten Testdurchführung. Außerdem beschränkt die Kommunikation zum Haupt-PC über Lichtwellenleiter Sensibilität auf externe Störungen. Zweite, entworfen mit einer einfachen und benutzerfreundlichen Logik, stellt Betriebsautonomie im Hinblick auf Systemmanagement und Prüfungsprogrammdurchführungen zur Verfügung.