Testsystem für Leiterplatten mit beweglicher Sonde Pilot V4
kompakt

Testsystem für Leiterplatten mit beweglicher Sonde -  Pilot V4 - Seica - kompakt
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Eigenschaften

Betätigung
für Leiterplatten mit beweglicher Sonde
Form
kompakt

Beschreibung

Die Pilot Next> series V4 ist ein voll leistungsfähiges, doppelseitiges Flying Probe Testsystem mit einem extrem hohen Grad an Flexibilität, dies macht sie zu idealen Lösung für diejenigen, die eine große Vielfallt an Testanforderungen haben, von Prototypen bis small/medium Produktionsvolumen, bis zur Reparatur von Feldrückläufern und Reverse Engineering. Die vertikale, kompakte Architektur und das exzellente Platinenklemmsystem stellt sicher, dass keine Oszillation des Prüflings entsteht, welches erst die präzise Positionierung der Probes auf den Testpunkten ermöglicht. Pilot Next> series V4 ist geeignet für: Elektronische Baugruppenreparatur Reverse Engineering Programmierung ohne CAD Daten Baugruppen nicht entwickelt für den Test (DFT) Low-Volume Produktion High-Mix Produktion Hybrides Testen in Verbindung mit externen Instrumenten Eigenschaften Testeinheit mit 2 Flying Probes auf jeder Seite Manuelle Beladung Reverse-Engineering und Rückgewinnung von elektrischen Schaltplänen Vectorlose Messungen, Knotenimpedanz und In-Circuit Tests Thermische Tests und visuelle Inspektion an beiden Seiten Möglichkeit externe Ressourcen anzuschließen (Instrumente, Netzteileinheiten) zum D.U.T. Offline Programmierung und Reparaturstation Barcode und 2D-Code Lesefähigkeit Automatisierte Statistische Datenerfassung für die Fehlerwahrscheinlichkeit

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.