Spektrumanalysator DA20

integrierbarkompakt2D

20° Grad Vollkegelaufnahme ohne Probenrotation Schnelle und patentierte elektronische Ablenkung (WO2013/133739) Matrixelementeffekte werden vermieden, indem die Probe fixiert bleibt Gewährleistet gleiche Spotgröße und -form für alle k//// Die Anforderungen an den Manipulator werden reduziert Die DA20 bietet ARPES sowie XPS und USV bei kompakter Bauweise. Die DA20 beinhaltet die bahnbrechende und patentierte Ablenkungstechnologie, die bisher nur in der größeren DA30 verfügbar war und die Vollkegel-ARPES-Messungen ohne Probenrotation ermöglicht Herkömmliche ARPES-Analysatoren haben einen Winkelmodus, der auf die winkeldispersive Richtung θx beschränkt ist, was zu einem 2D-Intensitätsbild für Winkel θx und Energie E auf dem 2D-Detektor führt. In einem solchen Aufbau erfordert die Vollkegelmessung, dass die Probe physisch gedreht wird, um den Winkelraum θy zu sondieren. Diese physikalische Bewegung kann mehrere Artefakte in die ARPES-Messung einbringen. Zu den Themen der ersten Bestellung gehört die Messung verschiedener Bereiche der Probe, während die Probe bewegt wird. Matrix-Effekte werden auch eingeführt, wenn Ein- und Austrittswinkel geändert werden, was sich auf die winkelabhängige Elektronenabgabe auswirkt. Unsere Analysatoren überwinden diese Grenzen, indem sie einen internen Auslenkungsmodus für die Richtung θy verwenden. Bei diesem Ablenkmodus projiziert das Linsensystem einzelne Scheiben von θx für einen bestimmten Winkel von θy auf den Analyseschlitz. Daher misst der Detektor des hemisphärischen Analysators Scheiben von θx vs. E-Spektren. Die Aufzeichnung dieser einzelnen Schichten unter Änderung des Ablenkwinkels θy bildet einen Würfel zuverlässiger Daten mit der Intensität für alle Werte θx, θy, E.