Rastersondenmikroskop TESLA JT SPM

LaborIn-SituTischgerät

> 5 Tage ununterbrochene Messzeit bei wechselnden Magnetfeldern mit nur 11 L L LHe Temperaturen bis zu 1 K mit 4He Extrem geringe thermische Drift Magnetische Felder BZ > 3 T Optischer Zugang STM und QPlus® AFM Ergonomisches Design & erweiterbar zu Clustern Das TESLA JT SPM ist ein von Scienta Omicron und CryoVac entwickeltes Joule-Thompson gekühltes Niedertemperaturmikroskop, das im Ultrahochvakuum für fortschrittliche Bildgebung und Spektroskopie arbeitet. Der Kryostat enthält eine Joule-Thompson-Kühlstufe, die unterhalb des LHe-Bad-Kryostaten mit dampfgekühlten Abschirmungen und einem umgebenden LN2-Gefäß montiert ist. Durch die außergewöhnlich niedrigen Verbrauchswerte von LHe und LN2 sind unterbrechungsfreie Experimente von mehr als vier Tagen möglich. Der TESLA JT SPM-Kopf verfügt über mehrere Messmodi einschließlich STM, NC-AFM (QPlus®) und verschiedene Spektroskopiemodi einschließlich STS, IETS und Kraftspektroskopie. In-situ Spitzen- und Probenaustausch mit vier elektrischen Kontakten zur Probenplatte ermöglichen einen erweiterten Bereich zusätzlicher Messmodi. Ein von CryoVac entwickelter supraleitender Magnet mit geteiltem Paar liefert Magnetfelder bis zu BZ > 3T und ermöglicht gleichzeitig den optischen Zugang zur Spitze und Probe sowie die in-situ-Verdampfung bei niedrigen Temperaturen. Das neue TESLA JT SPM kann mit der UHV-Übertragung auf ARPES- und MBE-Module kombiniert werden.