Rastersondenmikroskop VT SPM

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25 K 1500 K Echte pA STM Verbesserte dI/dV-Spektroskopie Strahlablenkung AFM QPlus-Sensor AFM In-situ-Verdampfung Das Omicron VT SPM ist ein in vielen Forschungslabors für Rastersondenmikroskopie etabliertes Mikroskop. Es wurde 1996 mit dem renommierten R&D Award ausgezeichnet. Bis heute wurden weltweit mehr als 500 Instrumente geliefert und erfolgreich installiert. Der Umfang der Forschungsergebnisse und Veröffentlichungen ist ein schlüssiger Beweis für die Leistung, Qualität und Vielseitigkeit des SPM-Designs mit variabler Temperatur. Das SPM mit variabler Temperatur verwendet die neueste Vorverstärker-Technologie für die echte Sub-pA-Rastertunnelmikroskopie und Spektroskopie. Der stabile Schwachstrombetrieb ist wichtig für die Untersuchung von Oberflächen, die empfindlich sind oder eine geringe Leitfähigkeit aufweisen. Für die Modulationsspektroskopie reduziert eine elektronische Kompensation den Einfluss von parasitären Strömen. Dies spart Erfassungszeit und verbessert die Ergebnisse. Die AFM-Technologie des SPM mit variabler Temperatur basiert auf mehr als 20 Jahren Erfahrung in der Rasterkraftmikroskopie in UHV. Sie wurde kontinuierlich weiterentwickelt und verbessert. Das klassische Strahlumlenk-AFM für kontaktbehaftete und kontaktlose AFM bietet die Flexibilität für viele Betriebsarten und verschiedene Auslegertypen. So stehen beispielsweise hochauflösendes AFM, Reibungskraftmikroskopie, Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Raster-Kelvinsondenmikroskopie (SKPM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM) zur Verfügung.