Intrinsische und dotierte amorphe Siliziumschichten.
Verfahren
Ionisierte Vorläufergase scheiden dünne Schichten auf einem Substrat ab.
- Schnelle RF-Zündung mit geringster Reflexionsleistung für eine gleichmäßige und stabile Schichtabscheidung.
- Ausgereifte und stabile Mehrfachzuführung in RF-Technologie, die auch für große Prozesskammern geeignet ist.
- Kontinuierlich einstellbares Gas zwischen Diffusor und Substrat bietet flexible Prozessmöglichkeiten.
- Hoher Durchsatz bei relativ niedrigen Kosten, mit der Möglichkeit eines kundenspezifischen Produktdesigns.
- Modularisiertes Design für einfache Installation und Wartung, zusammen mit höchstem Sicherheitsprotokoll vom Design bis zur Herstellung.
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