Software für Spektralphotometer Total F+

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Total Color F+, eine spektralphotometrische Messsoftware, analysiert und simuliert im Vakuum hergestellte optische Dünnschichten, um die Qualität von AR-Beschichtungen (Anti-Reflex) im eigenen Haus zu überprüfen. Leistungsstarkes Instrument zur Verbesserung der AR-Beschichtungseffizienz Total Color F+ verfügt über eine einfach zu bedienende Benutzeroberfläche, die die Verwaltung von Dünnschichtmessungen vereinfacht. Führen Sie mühelos regelmäßige Qualitätsprüfungen und statistische Berichte durch, die dazu beitragen, die Installationszeit von Beschichtungsprozessen zu reduzieren, Maschinen in einem Top-Zustand zu halten und höchste Beschichtungsqualität zu gewährleisten. Einfach zu bedienende Software zum Auslesen von Daten direkt von jedem Spektralphotometer. Erfasst hochgenaue absolute Reflexions- und Transmissionsmessungen. Transformiert absolute Messungen in CIELAB-Koordinaten für genaue Farbdefinition. Berechnet den Brechungsindex, die physikalische Dicke und den Tooling-Faktor von Einzelschichten. Ändern und Erstellen von Spezifikationen für jede Beschichtung mit dem Coating List Editor. Manuelle Simulation von Beschichtungsschichten. System Anforderungen: - PC mit Microsoft Windows 7, Windows 10 32/64bit O.S. Serielle Schnittstelle RS-232 (UART 16550 kompatibel) für Perkin Elmer Anschluss USB-Anschluss für MS-400-C*/MS-400-C UV*-Verbindung CD-ROM-Laufwerk (für die Installation) USB-Anschluss für Softwareschutz-Hardwareschlüssel Drucker Unterstützte Spektralphotometer: - MS-400-C*, MS-400-C-UV* Perkin Elmer Lambda 12, 20 und 25 * Faseroptische Handmessgeräte