- Metrologie - Labor
- Inspektion und Überwachung
- Halbleiter-Inspektionssystem
- SAMIL TECH CO., LTD
- Produkte
- Kataloge
- News & Trends
- Messen
Halbleiter-Inspektionssystem automatischfür Draht
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
Eigenschaften
- Technologie
- Halbleiter
- Merkmal
- automatisch
- Produktanwendung
- für Draht
Beschreibung
Test Spezifikation
Prüfung der Schleifenhöhe: ±50μm
Prüfvorschrift
Prüfung der Chip-Höhe: ±10μm
Netzanschluss
AC220V, 3Phasen, 60Hz
---
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.