Das mikrofokale Offline-Röntgenprüfsystem SE-PCT01 für Leiterplatten nutzt die Vorteile der hochauflösenden Impulsemission und der hohen Helligkeit der Kohlenstoffnanoröhren-CT-Röhre.
Eine Qualitätsüberwachungsmethode zum Auffinden versteckter Fehler in Leiterplatten.
Das mikrofokale Offline-PCB-Röntgeninspektionssystem SE-PCT01 nutzt die Vorteile der hochauflösenden Impulsemission und der hohen Helligkeit der Kohlenstoffnanoröhren-CT-Röhre sowie einen iterativen CT-Rekonstruktionsalgorithmus auf der Grundlage von Compressed Sensing. Mehrschichtige tomografische Bilder, einschließlich dreidimensionaler Bilder von Proben, können in kurzer Zeit erstellt werden, und die Proben können schnell und genau modelliert, analysiert und erkannt werden.
Röntgenquelle/strong>
- Arbeitsspannung: 90~150 KV
- Fokusgröße: 3~15 μm (optional)
- Arbeitsstrom: 10~ 150 μA
- Lichtleitertyp: Geschlossene Röhre
ALLGEMEINE SPEZIFIKATIONEN
- Typ: Digitaler Flachbildschirm
- Pixelgröße: 49,5 μm (optional)
- Pixelanzahl: 2304 x 2940 (optional)
- Bildfläche: 114 x 146 mm (wahlweise)
- Grauskala: 14/16 Bit
- Systemauflösung: 2,5 μm
- Standard Abmessungen: 1325 x 1010 x 1650 mm
- Gesamtgewicht: 800 kg
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