Kompromisslose Leistung
Die R&S®RTE1000 Oszilloskope bieten mit zusätzlichen Funktionen für Zeit-, Frequenz-, Protokoll- und Logikanalyse eine vollständige Multi-Domain-Testlösung. Ob bei der Entwicklung von Embedded Designs, der Analyse von Leistungselektronik oder der allgemeinen Fehlersuche, das R&S®RTE1000 erledigt die tagtäglichen Messaufgaben schnell, präzise und unkompliziert.
• Bis zu 16 bit vertikale Auflösung
• 200 Msample tiefer Speicher zur Analyse langer Sequenzen
• Seltene Signalfehler schnell finden dank 1 Million Messkurven/s
• Für die Bedienung per Touchscreen optimiert
• Abtastrate: 5 Gsample/s
• Max. Speichertiefe: 200 Msample
• Vertikale Auflösung: bis zu 16 bit
• MSO: 16 digitale Kanäle, optional, nachrüstbar