Kompaktes Einzelelement-wellenlängendispersives XRF-Analysegerät
Elementaranalysen mit hoher Präzision und hoher Empfindlichkeit
Die Mini-Z Serie kompakter wellenlängendispersiver XRF Analysegeräte wurde für die Analyse spezifischer Einzelelemente entwickelt. Da die optischen Systeme für ein bestimmtes Element konfiguriert sind, werden so besonders hohe Präzision und niedrige Nachweisgrenzen erzielt.
Hohe Präzision und Einzelelementbestimmungen
Mini-Z kann als Analysegerät für Silizium (z.B. für Si-Beschichtungen auf Papier oder Platik), Aluminium (z.B., für Al-Beschichtungen auf Papier oder Plastik), Nickel (z.B., für Ni-Beschichtungen oder Metallüberzüge), Chlor, Phosphor (z.B., in Biotreibstoffen) oder Zirkonium (z.B. für Zr-Beschichtungen) Anwendung finden.
Abgeschlossenes Elementaranalysegerät
Die kompakten WDXRF Spektrometer aus der Mini-Z Serie sind in sich abgeschlossene Röntgenanalysesysteme. Sicherheitsverriegelungen und "X-RAY ON" Warnleuchten befinden sich am Gerät, um den Benutzer vor austretender Röntgenstrahlung zu schützen. Die Spektrometer arbeiten gemäß aller Sicherheitsstandards (Nord Amerika) und sind gekennzeichnet mit dem CE Siegel.