VOLL INTEGRIERTES ELEKTRONENDIFFRAKTOMETER
Ein System, das für jeden Röntgenkristallographen intuitiv zu bedienen ist
XtaLAB Synergy-ED ist ein neues und voll integriertes Elektronendiffraktometer, das einen nahtlosen Arbeitsablauf von der Datenerfassung bis zur Strukturbestimmung dreidimensionaler Molekülstrukturen ermöglicht. Das XtaLAB Synergy-ED ist das Ergebnis einer innovativen Zusammenarbeit zur synergetischen Kombination unserer Kerntechnologien: Rigakus hochempfindlicher Hochgeschwindigkeits-Photonenzähl-Detektor (HyPix-ED) und die hochmoderne Instrumentensteuerung und Softwareplattform für die Einkristallanalyse (CrysAlisPro für ED) sowie JEOLs langjährige Erfahrung und Marktführerschaft bei der Entwicklung und Herstellung von Transmissionselektronenmikroskopen. Das Hauptmerkmal dieses Produkts ist, dass es Forschern eine integrierte Plattform bietet, die einen einfachen Zugang zur Elektronenkristallographie ermöglicht. Das XtaLAB Synergy-ED ist ein System, das von jedem Röntgenkristallographen intuitiv bedient werden kann, ohne dass er ein Experte für Elektronenmikroskopie werden muss.
Das XtaLAB Synergy-ED wurde entwickelt, um dem zunehmenden Bedarf an der Untersuchung immer kleinerer Proben in der Strukturforschung gerecht zu werden. In der Röntgenkristallographie liegt die kleinstmögliche Kristalldimension bei 1 Mikrometer, und auch nur dann, wenn die hellsten Röntgenquellen und rauschfreien Detektoren verwendet werden. In den letzten Jahren ist jedoch ein zunehmender Bedarf an der Strukturanalyse von Substanzen entstanden, die nur Mikrokristalle bilden, also Kristalle, die nur einige hundert Nanometer oder weniger groß sind. In den letzten Jahren wurde eine neue Analysemethode, MicroED, entwickelt, die die Elektronenbeugung an einem TEM-Elektronenmikroskop nutzt, um 3D-Molekularstrukturen von nanokristallinen Materialien zu messen.
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