Raman-Mikroskop SPM/AFM

für AnalyseKonfokalNanoskop

Sie können die Leistungsfähigkeit von inVia mit Rastersondenmikroskopen (SPMs und AFMs) kombinieren, um die Zusammensetzung, Struktur und Eigenschaften von Materialien im Nanometerbereich zu untersuchen. Wählen Sie das beste System Das inVia ist unglaublich flexibel; Renishaw kann es direkt mit einer breiten Palette von AFMs und SPMs von Anbietern wie z. B: Bruker Nano Surfaces Nanonics NT-MDT JPK Park Nanosurf Wählen Sie das beste SPM/AFM für Ihre Bedürfnisse. TERS: Spitzenverstärkte Raman-Streuung Ausgewählte inVia-AFM-Systeme können spitzenverstärkte Raman-Streuung (TERS) durchführen. Diese interessante Technik nutzt eine scharfe plasmonische Spitze, um chemische Informationen im Nanometerbereich zu erhalten. Das TERS-Mapping ergänzt StreamLine™ und StreamHR™ und gibt Ihnen die Flexibilität, Ihre Proben mit der von Ihnen gewünschten Auflösung zu untersuchen. Maximale Effizienz Der speziell entwickelte flexible Kopplungsarm von Renishaw kann zur optischen Integration von inVia in SPM/AFMs verwendet werden. Er verwendet Spiegel, um das Licht zu lenken, und bietet so eine höhere Effizienz als eine faseroptische Kopplung. Sie erhalten Ihre Spektren schneller und mit höherem Signal-Rausch-Verhältnis. Das Ausrichten ist einfach. Alle kombinierten Systeme bieten ein integriertes Video mit Weißlichtbeleuchtung, so dass Sie sowohl die Sondenspitze als auch den Raman-Laserspot deutlich sehen können - ein entscheidender Faktor für die Arbeit mit TERS. Gleicher Ort, gleiche Zeit Sie können sich auf Ihre Daten verlassen. Sie können gleichzeitig Raman- und AFM-Daten vom selben Punkt der Probe erfassen, ohne diese bewegen zu müssen. Dadurch wird sichergestellt, dass Ihre Daten konsistent sind, auch wenn sich Ihre Probe im Laufe der Zeit verändert. Ein kombiniertes System Die Analyse ist kolokalisiert; Sie müssen Ihre Probe nicht zwischen den Systemen hin- und herbewegen und dann mühsam nach demselben Punkt von Interesse suchen.