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Optisches Mikroskop MessSAM für Wafer
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Eigenschaften
- Typ
- optisch
- Anwendungsbereich
- Mess
- Weitere Eigenschaften
- SAM für Wafer
Beschreibung
Die Ultraschallmikroskopie bietet die Möglichkeit, zerstörungsfreie Prüfungen an opaken (optisch nicht transparenten) Materialien vorzunehmen und das Probeninnere mit einer Auflösung eines optischen Lichtmikroskops zu inspizieren.
In nahezu jedem Bereich der modernen Wissenschaft und Technologie sind die Anforderungen für innovative und fortgeschrittene Lösungen für zerstörungsfreie Abbildung anhand von Ultraschallmikroskopen gestiegen. Neue Denkwege und visionäre Ideen stehen hinter unserem erfolgreichen Konzept der zukunftsweisenden Ultraschalltechnologie.
Kataloge
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.