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Mikroskop für Wafer SAM 300 AUTO WAFER
InspektionautomatisiertSAM für Wafer

Mikroskop für Wafer - SAM 300 AUTO WAFER - PVA TePla Analytical Systems GmbH - Inspektion / automatisiert / SAM für Wafer
Mikroskop für Wafer - SAM 300 AUTO WAFER - PVA TePla Analytical Systems GmbH - Inspektion / automatisiert / SAM für Wafer
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Eigenschaften

Anwendungsbereich
Inspektion
Weitere Eigenschaften
automatisiert, SAM für Wafer, für Wafer

Beschreibung

SAM 300 AUTO WAFER ist eine speziell für die “Inline” Produktionskontrolle entwickelte Produktlinie. Es entspricht der Reinraumklasse 10. Es wurde für die Inspektion von Wafern oder gebondeten Wafern (MEMS) entworfen um Hohlräume, Einschlüsse oder Delaminationen in gebondeten Schichten zu entdecken.
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.