- Metrologie - Labor
- Laborbedarf
- Mikroskop für Forschungszwecke
- PVA TePla Analytical Systems GmbH
- Produkte
- Kataloge
- News & Trends
- Messen
Mikroskop / SAM für Wafer SAM 1000/2000für ForschungszweckeIndustrie
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
Eigenschaften
- Anwendungsbereich
- für Forschungszwecke, Industrie
- Weitere Eigenschaften
- SAM für Wafer
Beschreibung
SAM 1000 / 2000 sind Systeme für high end Forschungs- und Industrieanwendungen. Ein kombiniertes Ultraschall-Rastermikroskop und ein Lichtmikroskop, die auf einem schwingungsfreien Arbeitstisch montiert sind, ermöglichen einen sofortigen Wechsel zwischen SAM und lichtmikroskopischer Analyse.
Akustische und optische Bilder sind mit einer Genauigkeit von 5µm in x und y miteinander abgeglichen und erlauben dem Anwender, immer die gleiche Stelle der Probe exakt in beiden Methoden zu vergleichen.
Wählbarer Frequenzbereich:
SAM 1000: 100 MHz - 1000 MHz
SAM 2000: 100 MHz - 2000 MHz
Weitere Produkte von PVA TePla Analytical Systems GmbH
SAM Premium Linie
Verwandte Suchbegriffe
- Mikroskop
- Labormikroskop
- Inspektionsmikroskop
- Mikroskop für Analyse
- Industrie-Mikroskop
- Automatisches Mikroskop
- Inversmikroskop
- Mikroskop für Forschungszwecke
- Mikroskop mit hoher Drehzahl
- Kostengünstiges Mikroskop
- Lokalsonde-Mikroskop
- Mikroskop für Halbleiter
- Mikroskop / SAM für Wafer
- Rastersondenmikroskop
- Mikroskop für Wafer
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.