Mikroskop für Analyse SAM 400 TWIN

für Forschungszweckemit hoher DrehzahlSAM für Wafer

Das SAM 400 TWIN ist ein für hohen Durchsatz entwickeltes Ultraschall-Rastermikroskop für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungsanwendungen. Das System besitzt einen neuen Hochgeschwindigkeits-Linearmotor Scanner und neue Hochfrequenz- und Transducertechnologien bis zu 400 MHz, die durch eine benutzerfreundliche Oberfläche gesteuert werden. Ein neues Master/Slave-Konzept ermöglicht die Anordnung von zwei Transducern, um simultane Bilder zu akquirieren. Das SAM 400 TWIN ist auf einer Komponentenplattform nach Industriestandards aufgebaut. Scanning Bereich x; y: 200µm-200µm-430 mm x 430 mm Autofokus für jeden Transducer