Mikroskop / SAM für Wafer SAM 300 TWIN

für Analysefür Forschungszwecke

Das SAM 300 TWIN ist ein, für hohen Durchsatz entwickeltes, Ultraschall-Rastermikroskop für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungsanwendungen. Das System besitzt einen neuen Hochgeschwindigkeits-Linearmotor Scanner und neue Hochfrequenz- und Transducertechnologien bis zu 400 MHz, die durch eine benutzerfreundliche Oberfläche gesteuert werden. Ein neues Master/Slave-Konzept ermöglicht die Anordnung von zwei Transducern, um simultane Bilder zu akquirieren. Das SAM 300 TWIN ist auf einer Komponentenplattform nach Industriestandards aufgebaut. Scan-Bereich: x=250 µm-320 mm, y=250 µm-320 mm, z=100mm Autofokus für jeden Transducer