Mikroskop für Analyse SAM 300 E
SAM für Wafer

Mikroskop für Analyse - SAM 300 E - PVA TePla Analytical Systems GmbH - SAM für Wafer
Mikroskop für Analyse - SAM 300 E - PVA TePla Analytical Systems GmbH - SAM für Wafer
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Eigenschaften

Anwendungsbereich
für Analyse
Weitere Eigenschaften
SAM für Wafer

Beschreibung

Die SAM Line bietet einfach zu bedienende Ultraschall-Rastermikroskope zur Prozesskontrolle und Qualitätssicherung sowie für Forschungsanwendungen. Die einzelnen Modelle basieren auf einer Komponentenplattform nach Industriestandard unter Nutzung von führenden Produktions- und Fertigungstechnologien. Dank ihrer neuen Hochfrequenz- und Transducer-Technologie ermöglichen unsere Ultraschallmikroskope die detaillierte akustische Analyse im Ultraschallfrequenzbereich bis zu 400 MHz. - Linear angetriebener, geräuscharmer Scanner - nicht für den 24/7 Betrieb geeignet - Analyse von Proben im Ultraschallfrequenzbereich bis zu 400 MHz - besonders geeignet zur detaillierten akustischen Messung - mit graphischer Benutzeroberfläche zur einfachen Bedienung und flexiblen Anwendbarkeit - Scan-Bereich: 250 µm x 250 µm - 300 mm x 300 mm - motorisierte Z-Achse 70 mm - 1 Giga Sample ADC
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.