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Mikroskop / SAM für Wafer AM 300Rastersondenfür ForschungszweckeIndustrie
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Eigenschaften
- Typ
- Rastersonden
- Anwendungsbereich
- für Forschungszwecke, Industrie
- Weitere Eigenschaften
- kostengünstig, SAM für Wafer
Beschreibung
Die SAM Line bietet einfach zu bedienende Ultraschall-Rastermikroskope zur Prozesskontrolle und Qualitätssicherung sowie für Forschungsanwendungen. Die einzelnen Modelle basieren auf einer Komponentenplattform nach Industriestandard unter Nutzung von führenden Produktions- und Fertigungstechnologien. Dank ihrer neuen Hochfrequenz- und Transducer-Technologie ermöglichen unsere Ultraschallmikroskope die detaillierte akustische Analyse im Ultraschallfrequenzbereich bis zu 400 MHz.
- Analyse von Proben im Ultraschallfrequenzbereich bis zu 400 MHz
- besonders geeignet zur kosteneffizienten zerstörungsfreien Untersuchung
- für den 24/7 Betrieb geeignet
- Scan-Bereich: 1000 µm x 1000 µm - 300 mm x 300 mm
- Motorisierte Z-Achse 100 mm
- 1 Giga Sample ADC
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SAM Linie
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.