Das H105-F passt zu den meisten aufrechten Mikroskopen und ist Teil der breiten Palette von präzise entwickelten ProScan®-Tischen. Mit einem großen Verfahrbereich kann er große Proben wie Halbleiterwafer, Fotomasken und Leiterplatten aufnehmen und ist somit ideal für materialwissenschaftliche Anwendungen. Austauschbare Probenhalter ermöglichen den Einsatz des Schlittens für eine Vielzahl von Anwendungen. Mit hoher Auflösung und ausgezeichneter Wiederholgenauigkeit ist die H105N2F ideal für High-End-Anwendungen in der Materialwissenschaft.
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