Optische Oberflächenprofil-Messmaschine TopMap Micro.View

3Dinterferometrischmit Weißlichtinterferometrie

Kompaktes optisches Profilometer für Mikrostrukturen und Rauheit TopMap Micro.View® ist das kompakte Profilometer der TopMap Weißlichtinterferometer und besticht durch schnelle, wiederholgenaue und hochauflösende Oberflächencharakterisierung. Ob Mikrostrukturen, Textur, Beschaffenheit oder flächenhafte Rauheitsparameter (Sa, Sz, ...) - scannen Sie Ihre Oberflächen effizient mit sub-nm-Auflösung! Dank integrierter CST Continuous Scanning Technology bietet der 100 mm lange Verfahrweg in Z-Achse auch komplette 100 mm Messbereich bei einer vertikalen Auflösung im Bereich von Nanometern. Dieses optische Profilometer zeichnet sich durch Kompaktheit dank integrierter Elektronik aus und besticht durch Bedienerfreundlichkeit - zum Beispiel per Focus Finder für schnelles und effizientes Messen in Produktionsumgebung und Prüflabor. + Flächenhafte 3D-Topografieanalyse von Rauheit und Texturen und Mikrostrukturen + Kompaktsystem für Oberflächendetails + 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology + Exzellente laterale Auflösung + Messen mit sub-Nanometer Auflösung + Operator Interface für vordefinierte Messrezepte als schnelle 1-Klick-Lösungen + NEU: Erweiterte Objektivoptionen 0,6X ... 111X jetzt verfügbar Kontaktieren Sie uns für eine Demonstration, Machbarkeit und weitere Informationen.