Optisches Profilometer TopMap Micro.View

3Dmit Weißlichtinterferometrieinterferometrisch

Komaktes optisches Profilometer für Mikrostrukturen und Rauheit TopMap Micro.View® ist das Kompaktsystem der TopMap Familie von optischen Profilometern und ermöglicht die wiederholgenaue und hochauflösende Charakterisierung von Oerflächenstruktur, Textur und Rauheit. Dank integrierter CST Continuous Scanning Technology bietet der 100 mm lange Verfahrweg in Z-Achse auch komplette 100 mm Messbereich bei einer vertikalen Auflösung im Bereich von Nanometrn. Dieses optische Profilometer zeichnet sich durch Kompaktheit dank integrierter Elektronik aus und besticht durch Bedienerfreundlichkeit - zum Beispiel per Focus Finder für schnelles und effizientes Messen in Produktionsumgebung und Prüflabor. + Flächenhafte 3D-Topografieanalyse von Rauheit und Texturen und Mikrostrukturen + Kompaktsystem für Oberflächendetails + 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology + Exzellente laterale Auflösung + Anwendungsspezifische Objektive Kontaktieren Sie uns für eine Demonstration, Machbarkeit und weitere Informationen.