Optisches Profilometer TopMap Pro.Surf
3Dmit WeißlichtinterferometrieOberflächenrauheit

Optisches Profilometer - TopMap Pro.Surf - Polytec - 3D / mit Weißlichtinterferometrie / Oberflächenrauheit
Optisches Profilometer - TopMap Pro.Surf - Polytec - 3D / mit Weißlichtinterferometrie / Oberflächenrauheit
Optisches Profilometer - TopMap Pro.Surf - Polytec - 3D / mit Weißlichtinterferometrie / Oberflächenrauheit - Bild - 2
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Eigenschaften

Technologie
optisch, 3D, mit Weißlichtinterferometrie
Funktion
Oberflächenrauheit, Oberflächenebenheit, zur Winkelmessung, Formmessung, Geometrie, zur Dünnschicht-Analyse, zur Verzugskontrolle
Verwendung
zur Kontrolle, für Produktionsanlagen, für Drehteile, für große Werkstücke
Merkmal
Industrie, Labor
Konfigurierung
Tisch, kompakt, Inline
Weitere Eigenschaften
kontaktlos, zerstörungsfrei, Hochgeschwindigkeit, automatisch, mit rotierender Positionierplatine

Beschreibung

FORMPARAMETER UND 3D-TOPOGRAFIE BERÜHRUNGSLOS MIT GROßEM BILDFELD MESSEN TopMap Pro.Surf ist das optische 3D-Oberflächenmessgerät zur großflächigen Charakterisierung von Formparametern und Oberflächen - schnell, hochpräzise und berührungsfrei. Pro.Surf ist ein High-End-Profilometer für verlässliche Qualitätskontrollen im Fertigungsumfeld, ob in-line, at-line oder im Labor. Pro.Surf misst Ebenheit, Stufenhöhe oder Parallelität und mehr auf großem Bildfeld – schnell und hocheffizient. Das Weißlicht-Interferometer erhebt Höhendaten auf großen Flächen und erfasst somit alle Oberflächendetails in einer einzigen Aufnahme. Zwei Millionen Messpunkte auf 44 x 33 mm großem Bildfeld (FoV, Field-of-View) binnen Sekunden erfassen. Erweitern Sie das Bildfeld per Stitching auf 230 x 220 mm, nutzen Sie den 70 mm langen vertikalen Messbereich für tiefliegende Flächen voll aus und profitieren Sie von hervorragender vertikaler Auflösung unabhängig der Bildfeldgröße. Die telezentrische Optik erfasst selbst schwer zugängliche und tiefliegende Flächen wie z.B. in Bohrlöchern. Zahlreiche Add-Ons und Zusatzoptionen machen es Pro.Surf zur anwendungsspezifischen Prüfinstanz für Oberflächen: Als Multisensorsystem für großflächige Messung von Form und chromatisch konvokaler Rauheitslinienmessung, mit integrierter Software und individualisierbarer Datenerfassungs- und Auswertungstools, eigene Parameter, vordefinierte Messrezepte als 1-Klick-Lösungen für einfachsten Betrieb auf Produktionslevel, Barcode-Scanner und mehr.

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Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

Global Industrie 2025
Global Industrie 2025

11-14 März 2025 Lyon (Frankreich) Stand 2K80

  • Mehr Informationen
    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.