MODULARES OPTISCHES PROFILOMETRER FÜR NM-RAUHEIT UND MIKROSTRUKTUREN
TopMap Micro.View+ ist die nächste Generation optischer Oberflächenmesstechnik von Polytec. Sein modulare Design ermöglicht diverse Konfigurationen, maßgeschneidert auf Ihre Oberflächenprüfaufgaben - ob für Textur, Mikrostrukturen, Form oder Rauheit auf präzisionsgefertigten Teilen oder Mikrosystemen. Micro.View+ ist konzipiertt fürs Messlabor und Forschung, bedient via reiner Sensorintegration aber auch in-line Anwendungen.
Visualisieren Sie Ihre 3D-Topographie und nutzen Sie den Farbmodus für eine aussagekräftigere Darstellung und Unterscheidung z.B. von Oberflächenfehlern oder zur Dokumentation. Optional mit 5-MP-Kamera liefert es verlässliche Details der Oberflächenbeschaffenheit und -form und ermöglicht so ein direktes Feedback zur Optimierung Ihrer Bearbeitungsprozesse.
MODULARE & AUTOMATISIERTE QUALITÄTSPRÜFUNGEN INLINE & AT LINE
Das umfangreiche Zubehörpaket vereinfacht und beschleunigt Ihre Messungen. Während der Focus Finder und der innovative Focus Tracker die Prüflinge unter allen Umständen und während der Neupositionierung immer im Fokus halten, unterstützt der voll motorisierte Positioniertisch Stitching und automatisierte Prüfungen, während er die Spitze/Neigung automatisch anpasst.
+ Weißlicht-Interferometer der Spitzenklasse mit sub-nm Auflösung
+ 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
+ Focus Finder und Focus Tracker ideal für die automatische Produktionskontrolle
+ Motorisierter Kipptisch und Revolver für automatische
+ Modular für anwendungsspezifische Konfigurationen
+ NEU: Erweiterte Objektivoptionen 0,6X ... 111X jetzt verfügbar