Kamera für Wafer

für die industrielle BildverarbeitungInfrarotInGaAs

InGaAs kurzwellige Infrarot-SWIR-Kameras liefern eine Auflösung von 640x512 Pixel mit einer Auflösung von bis zu 1,7 µm. Die hochauflösende SWIR-Kamera kann für eine Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden, darunter Laserstrahlprofilierung, Halbleiterinspektion, hyperspektrale Bildgebung, Online-Prozesskontrolle, Low-Light Level Imaging und Screening von Solarzellen. Für das Screening von Solarzellen können Defekte im Frühstadium durch das Massensilizium abgebildet werden, da es bei Wellenlängen über 1,1 µm transparent ist. Risse, tote oder schwach reagierende Bereiche werden auf geschnittenen Wafern enthüllt, was eine automatische Sortierung / Auswahl der besten Stücke ermöglicht. Die Kamera erfasst schließlich schwache Elektrolumineszenz (EL) und Photolumineszenz (PL) Emissionen einzelner Photovoltaikzellen, die direkt proportional zu ihrem Wirkungsgrad sind Photonic Science hochauflösende SWIR-Kameras können mit modernster SWIR-Optik geliefert werden, die eine bessere Auflösung / Kontrastmodulation und geringere Verzerrung als herkömmliche NIR-Optiken liefert, die mit herkömmlichen CCD-Kameras verwendet werden Hauptmerkmale - 14-Bit-Digitalisierung / 16-Bit-Bildverarbeitung - Ausleserauschen - bis hinunter zu typisch 200 fps - Mit Region of Interest ROI - Ausgezeichnete Linearität - Reaktion auf unterschiedliche Intensitäten und/oder Expositionen - Gigabit Ethernet & Camera Link Schnittstelle - Software-Option - SDK-Kit, Labview VI's