Imaging System / FTIR Spotlight 400

für Analyse

Spotlight™ IR-Mikroskopsysteme wurden entwickelt, um den Herausforderungen eines expandierenden Labors gerecht zu werden, indem sie hochwertige, reproduzierbare Daten von einer Vielzahl von Probentypen erzeugen. Das Spotlight 400 FT-IR Imaging System kombiniert hohe Empfindlichkeit und schnelle Bildgebung mit einfacher Bedienung. Die Möglichkeit, große Probenbereiche schnell und mit hoher räumlicher Auflösung abzubilden, erweitert die FT-IR-Mikroskopie auf neue Anwendungen. FT-IR-Imaging für außergewöhnliche Analysen Das Spotlight 400 FT-IR-Imaging-System wurde mit modernster Technologie entwickelt, um eine intelligente Automatisierung und hochentwickelte Analysemöglichkeiten zu ermöglichen. Das System enthält eine Reihe einzigartiger Produktivitätswerkzeuge und verfügt über ein ATR-Imaging-System, das die Erfassung hochauflösender Infrarotbilder von extrem kleinen Proben ermöglicht, um die Zusammensetzung von Materialien auf der Grundlage von FT-IR-Spektraldaten zu visualisieren. Zu den einzigartigen Merkmalen des Spotlight 400 Systems gehören: Hochwertige Spektralproduktion und Bilder von Probenbereichen mit einer Pixelauflösung von 6,25, 25 oder 50 Mikrometern Erkennung von ROI (Region of Interest) zur einfachen Analyse mehrerer Partikel und Schichten auf einmal Konfigurierbar mit erweitertem mittlerem IR, nahem IR oder Dual Range FT-IR mit dem Spectrum 3™ System, um in kürzester Zeit ein Maximum an Informationen aus den Proben zu erhalten. Konfigurierbarkeit zur Verwendung mit Mid-IR-, Near-IR- oder Dual-Range-FT-IR mit dem Spectrum 3™-System, um in kürzester Zeit ein Maximum an Informationen aus den Proben zu erhalten. Das Spotlight 400 FT-IR-Imaging-System kann so konfiguriert werden, dass es Ihre Anforderungen an die FT-IR-Mikroskopie erfüllt und hochwertige Spektren und FT-IR-Bilder von extrem kleinen Proben erzeugt.