Hochvakuum-Mikroskop NX-HivacRasterkraftMessCCD
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
Eigenschaften
- Typ
- Rasterkraft
- Anwendungsbereich
- Mess
- Detektortyp
- CCD
- Weitere Eigenschaften
- großer Arbeitsabstand, Hochvakuum
- Räumliche Auflösung
1 µm
Beschreibung
Park NX-Hivac ist ein Hochvakuum-Atomkraftmikroskop für die Fehleranalyse und die Erforschung atmosphärensensibler Materialien.
Da die Abtastung im Hochvakuum eine höhere Genauigkeit und bessere Wiederholbarkeit bietet als bei Umgebungs- oder trockenen N2-Bedingungen, können die Benutzer z. B. einen breiten Bereich von Dotierstoffkonzentrationen und Signalreaktionen in Anwendungen der Fehleranalyse messen.
---
Kataloge
Verwandte Suchbegriffe
- Mikroskop
- Labormikroskop
- Inspektionsmikroskop
- Messmikroskop
- Hochauflösendes Mikroskop
- Industrie-Mikroskop
- Automatisches Mikroskop
- Mikroskop für Forschungszwecke
- Modulares Mikroskop
- Motorisiertes Mikroskop
- CCD-Mikroskop
- Lokalsonde-Mikroskop
- Messtechnik-Mikroskop
- AFM-Mikroskop
- Rastersondenmikroskop
- Mikroskop für große Probe
- Nanoskop Mikroskop
- Mikroskop für die chemische Industrie
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.