Rasterkraftmikroskop NX-TSH

zur Prüfung von FlachbildschirmenMessMesstechnik

Park NX-Tip Scan-Kopf - Automatisiertes Rasterkraftmikroskopie (AFM)-System zur Messung von sehr großen und schweren Flachbildschirmen im Nanobereich Als Antwort auf die steigende Nachfrage nach AFM-basierter Metrologie an größeren Flachbildschirmen hat Park Systems den NX-Tip Scan Head eingeführt, der die Herausforderungen der Nanometrologie bei Probenabmessungen von über 300 mm und Gewichten von über 1 kg bewältigt. Der Tip Scanning Head (TSH) ist ein Kopf mit beweglicher Spitze, der speziell für automatisierte AFM-Messungen und -Analysen an großen Proben wie OLED- und LCD-Bildschirmen entwickelt wurde. Mit dem Park NX-TSH lassen sich zuverlässige, hochauflösende AFM-Bilder von OLEDs, LCDs, Fotomasken und mehr erstellen, wobei ein Brückensystem im Gantry-Stil verwendet wird, um Produktivität und Qualität zu verbessern.