Mikroskop-Objektiv / Makro PI 640i

MessInspektionfür Mikroskopie

Die neu entwickelten Mikroskop-Objektive sind speziell für die thermische Inspektion von Elektronikplatinen und die Analyse von kleinen Chip-Level-Komponenten bis zu 28 μm konzipiert. Die Entfernung zwischen Messobjekt und Kamera kann von 80 bis 100 mm variieren. Wichtige Parameter • Analyse von kleinen Bauteilen auf Chipebene bis zu 28 μm • Freihändiger Betrieb für gleichzeitige Prüfung und IR-Bildgebun • Auswechselbare, fokussierbare Objektive für einen möglichst flexiblen Einsatz der Kamera • Mit einer Temperaturauflösung (NETD) von 80 mK 640x480 px @ 32 Hz/ 640x120 px @ 125 Hz Linse: f=44 mm/ 12° x 9° Objektiv/ Min. Spot (IFOV): 28 μm Temperaturbereich: -20-100 °C/ 0-250 °C/ (20)150-900 °C Umfang der Lieferung: Wärmebildkamera optris PI 640i – Mikroskop-Optik (MO44) – Mikroskopständer – Standard-USB-Kabel (1 m) – Standard-Prozess-Schnittstelle – Handbuch optris PI Kamera – Robuster Transportkoffer für den Außenbereich – Softwarepaket optris PIX Connect auf USB-Stick Technische Daten optris PI Mikroskop-Kit • Minimale Spotgröße: PI 640i: 28 μm • Mikroskop-Optik (FOV): • PI 640i 12° x 9° (F=1.1) / f= 44 mm • Arbeitsabstand: 80 – 100 mm • Temperaturbereich (skalierbar): –20 … 100 °C, 0 … 250 °C, 150 … 900 °C • PI 640i FPA, 640 x 480 Pixel @ 32 Hz 640 x 120 Pixel @ 125 Hz • Spektralbereich 8 – 14 μm • Systemgenauigkeit (bei einer Umgebungstemperatur von 23 ± 5 °C): ±2 °C oder ±2 %, je nachdem, welcher Wert größer ist • Abweichung von der Umgebung: ± 0,05 %/K 1) • Temperaturauflösung (NETD) • PI 640i: 80 mK • PC-Schnittstelle: USB 2.0 • Standard-Prozess-Schnittstelle (PIF) 0-10 V Eingang, digitaler Eingang (max. 24 V), 0-10 V Ausgang