Digitale E/A-Karte PE32D
32 Digitalausgänge32 Digitaleingänge16 Digitaleingänge

digitale E/A-Karte
digitale E/A-Karte
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Signaltyp
digital
Anzahl Ausgänge/Eingänge
32 Digitalausgänge, 32 Digitaleingänge, 16 Digitaleingänge, 16 Digitalausgänge
Format
PXI
Größe
3U
Weitere Eigenschaften
programmierbar, kompakt

Beschreibung

Das PE32D stellt ein neues Niveau an Leistung und Fähigkeiten für PXI-basierte digitale Messgeräte dar. Basierend auf der bewährten Architektur des PE32 bietet der PE32D eine leistungsstarke Pin-Elektronik und einen verbesserten Timing-Generator in einem kompakten 3U-PXI-Formfaktor. Jede Karte kann als digitales 32-Kanal-Subsystem oder als zwei 16-Kanal-Sites-Tester eingesetzt werden. Der PE32D unterstützt außerdem unterstützt außerdem einen tiefen Pattern-Speicher mit 32 M Onboard-Vektorspeicher mit dynamischer Richtungssteuerung pro Pin und mit Testraten bis zu 33 MHz. Der PE32T unterstützt -1 ~ +7 VOH VOL VIH VIL pro Kanal und 4 PMU pro Board. Der PE32D bietet 16 Timing-Sets, 2 Treiber TG Edges, 1 Strobe TG Edges. 2 Formatsätze, die während des Betriebs geändert werden können, und vier Antriebsdatenformate werden unterstützt: RTZ (Return To Zero), RTO (Return To One), NRZ (Non Return To Zero), SBC (Surround By Complement), die eine Vielzahl von Buszyklen und Wellenformen zum Testen von Produkten auf Platinen- und Gehäuseebene flexibel gestalten können. Zwei 100MHz 32bit TMU für Frequenz und Zeitmessung. On-Board-Speicher Der PE32D bietet 32 M Vektorspeicher pro Kanal. Programmierbare Musterzykluszeiten bis zu 232 oder unendlich. Es gibt Mustersymbole wie 0, 1, L, H, X, Z, J, Q. Kompatibilität Alle OpenATE Interfaces PXI-Karten entsprechen der PXI-Spezifikation 2.0 (Ausgabe Aug. 2000) Software Das PE32D wird mit API und Pattern Editor geliefert. Der Pattern Editor ist ein Software-Tool zur Bearbeitung von Testmustern. Anwendung - Automatische Testgeräte (ATE) - Digitaler Funktionstest für Verbraucher - Digitale Mustererstellung - Prüfung von Power-Management-Geräten - Hybride und digitale IC-Tests

---

Kataloge

Für dieses Produkt ist kein Katalog verfügbar.

Alle Kataloge von OpenATE Inc. anzeigen
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.