Metrologie für Wafer QS2200™
für Halbleiter

Metrologie für Wafer - QS2200™ - Onto Innovation Inc. - für Halbleiter
Metrologie für Wafer - QS2200™ - Onto Innovation Inc. - für Halbleiter
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Eigenschaften

Typ
für Wafer, für Halbleiter

Beschreibung

Zerstörungsfreie Wafer-Analyse Produktübersicht Das QS2200-System ist ein FTIR-Messgerät, das speziell für die zerstörungsfreie Waferanalyse entwickelt wurde. Es wird für die Charakterisierung und Messung von Halbleitermaterialien sowie für die Herstellung von Geräten eingesetzt.

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.