Discover® Review Software ist eine intuitive Klassifizierungslösung, die Benutzer schnell durch die Abläufe der Fehlerklassifizierung und -korrelation führt.
Produktübersicht
Discover® Review Software verbessert die Systemproduktivität, da die Benutzer die Ergebnisse offline überprüfen können. Prüfen Sie Defektergebnisse von jedem mit dem Discover-Server verbundenen Prüfwerkzeug. Die Verwendung mehrerer Clients steigert die Produktivität, da eine gleichzeitige Prüfung mit Überschreibschutz unterstützt wird, während der Status der Teilprüfung einen Schichtwechsel des Bedieners ermöglicht. Visualisieren Sie Defekte einzeln oder gemeinsam mit einem interaktiven, vollflächigen (Vorderseite, Kante, Rückseite) Wafer Map Viewer. Der Galerie-Review-Modus ermöglicht die Auswahl einzelner oder mehrerer Bilder nach Wafer oder Die für eine schnelle Klassifizierung und einen schnellen Fehlervergleich. Discover Review Software beinhaltet auch eine große Anzahl von Wafer Map Exporten und anpassbaren Berichten.
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