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Optisches Mikroskop Eclipse LV100NDLaborMessInspektion
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Eigenschaften
- Typ
- optisch
- Anwendungsbereich
- Labor, Mess, Inspektion, Industrie, metallurgisches, für Materialforschung, medizinisch, für Qualitätskontrolle, zur Untersuchung der nicht-metallischen Einschlüsse, für berührungslose 3-Achsen Mess, für Dünnschichtmessungen, Mehrzweck, zur online-Wafer-Kontrolle, Tiefenmess
- Ergonomie
- aufrecht
- Mikroskopkopf
- binokular, trinokulares
- Beobachtungstechnik
- Hellfeld, Fluoreszenz, Phasenkontrast, Dunkelfeld, polarisiert, Infrarot, mit differentiellem Interferenzkontrast
- Konfigurierung
- Tisch
- Lichtquelle
- LED-Beleuchtung, koaxialer Beleuchtung
- Weitere Eigenschaften
- ergonomisch, Digitalkamera, hochauflösend, Hochpräzision, 3-Achsen, für polierte Proben, motorisiert, Niedrigtemperatur, mit starker Vergrößerung, automatisiert, zur Glasfaserinspektion, mit Lichtstärkekontrolle, SAM für Wafer, mit Spezialbeleuchtung, mit veränderlicher Temperatur, USB, modulares, zur Bilderfassung, zur Mikroskop- und Profilometer Integrierung, für die Asbesterkennung, für Wafer, großer Arbeitsabstand, für Topographie, mit hohem Kontrast, hochauflösend, Gleittisch, Bildverarbeitung, mit interferometrischem Metrologie System unter Weißlicht, Echtzeit, kostengünstig, für die Nanotechnik, für flaches Muster, für Halbleiter, leicht zu befüllen
- Gewicht
9,5 kg
(20,9 lb)- Länge
657 mm
(25,9 in)- Breite
251 mm
(9,9 in)- Höhe
506 mm
(19,9 in)
Beschreibung
Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und sind ideal für die Materialprüfung in vielen industriellen Anwendungen.
Modulare, motorisierte und manuelle aufrechte Mikroskope
Die hervorragenden Optiken der Nikon CFI60-2 Serie liefern exzellente Bilder für beide Okulare und für die digitalen Nikon-Kameras mit Analyse-Software. Das universelle Mikroskopdesign ermöglicht dank eines modularen Komponentenprogramms komplementäre optische Kontrastverfahren zusammen auf einem Mikroskopstativ
Nikon ECLIPSE LV100NDA und LV100ND
Diese Mikroskope mit episkopischer und diaskopischer Beleuchtung sind für die Inspektion von industriellen Materialien und Komponenten sowie für Anwendungen in Forschung und Entwicklung bestimmt.
Nikon CFI60-2 Objektiv-Serie
Nikons innovatives Design ermöglicht klare Abbildungsverfahren, einschließlich Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differentiellem Interferenzkontrast (DIC) und Zweistrahlinterferometrie mit hohem Kontrast.
Nikon Digital Sight Kameras
Alle Nikon Digital Sight Kameras nehmen effizient Bilder einer Probe auf und liefern sie an die Bildverarbeitungssoftware der NIS-Elements Suite, zusammen mit Mikroskopdaten über das verwendete Objektiv, die Vergrößerungseinstellung und die
Kataloge
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.