CW-Laser EMDL-XS-705

FestkörperInspektionfür Industrieanwendungen

DIODE EXS SERIE LASER bei 705 nm EMDL-XS-705/1~25mW Kurze Beschreibung: Integrierte Elektronik, Plug-and-Play, Miniaturisierung, internationale Standardschnittstelle. Sie sind die ideale Lösung für eine breite Palette von anwendungen wie Biowissenschaften, Umweltüberwachung, Inspektion und maschinelles Sehen Strahlfleck-Muster: TEM00 M²: <1.1 Leistungsstabilität (RMS@4h，23±3℃): <0.1%, 0.3%, 0.5%, 1%. Richtungsstabilität (2h，23±3℃): <0,05 mrad Ausgangsleistung einstellbar, LCD Steuerungsverfahren: TTL-Modulation, analoge Modulation, RS232 schnittstellensteuerung