Rasterkraftmikroskop LensAFM

Messfür AnalyseInspektion

Das Nanosurf LensAFM ist ein Rasterkraftmikroskop, das dort ansetzt, wo Lichtmikroskope und Profilometer an ihre Auflösungsgrenzen stoßen. Es wird wie ein normales Objektiv montiert und erweitert so die Auflösungs- und Messmöglichkeiten dieser Instrumente. Das LensAFM liefert nicht nur Informationen zur 3D-Oberflächentopografie, sondern kann auch zur Analyse verschiedener physikalischer Eigenschaften einer Messprobe verwendet werden. Nahtlose Integration In immer mehr Situationen wollen Forscher optische und rasterkraftmikroskopische Techniken kombinieren. Die Benutzerfreundlichkeit, die Screening-Fähigkeit und die minimalen Anforderungen an die Probenvorbereitung von Lichtmikroskopen sind fast beispiellos. Wenn jedoch die Auflösung eines 100x-Objektivs nicht ausreicht, um kleine Merkmale jenseits der Auflösung des Instruments zu untersuchen, kommt das LensAFM ins Spiel. Dank seiner außergewöhnlich kleinen Bauweise und seines cleveren Befestigungsmechanismus brauchen Sie nur den Revolver auf Ihrem Lichtmikroskop oder Profilometer zu drehen und den Scanvorgang zu starten. Verbessern Sie Ihre optische Mikroskopie mit AFM für erweiterte Einblicke Da die Auflösung der optischen Mikroskopie durch die Wellenlänge des Lichts begrenzt ist, gibt es eine Grenze für die Auflösung, die Sie mit Ihrem optischen System erreichen können. Bei immer mehr Anwendungen ist daher eine Kombination aus optischer und Rasterkraftmikroskopie erforderlich. Außerdem lassen sich mit dem AFM Probleme bei der Charakterisierung von transparenten oder anderweitig optisch schwer zu beurteilenden Proben lösen. Aber nicht nur die grobe Topographie einer Probe ist von Interesse: Mit AFM lassen sich auch andere Materialeigenschaften erfassen,