AFM-Mikroskop Nanite

Messfür AnalyseInspektion

Die Oberflächenmorphologie ist eine wichtige Eigenschaft für viele Hightech-Oberflächen mit Merkmalen bis zu wenigen Nanometern und einer Oberflächenrauheit von weniger als einem Nanometer. Das Nanite ist das Werkzeug der Wahl für die Oberflächenanalyse von Werkstücken aller Formen und Größen. Es liefert Präzisionsmessungen im Nanobereich und ist selbst so klein, dass es in praktisch jede denkbare Umgebung integriert werden kann. Quantitative Oberflächenanalyse auf der Nanoskala Eine genaue Oberflächenanalyse im Nanomaßstab ist in verschiedenen Branchen unerlässlich, von der Nanotechnologie über die Datenspeicherung bis hin zur Präzisionsoptik. Das Nanite ist ein unschätzbares Instrument, um komplizierte Oberflächendetails im Nanomaßstab aufzudecken, einschließlich der Rauheit im Sub-Nanometerbereich, die für verschiedene Anwendungen entscheidend ist. Beschränkungen für Proben - Keine Die Qualitäts- und Prozesskontrolle erfordert häufig die Analyse größerer Teile oder Komponenten, die nicht in kleinere Segmente unterteilt werden können. Ganz gleich, ob es sich um umfangreiche Proben oder komplizierte Kurven handelt, Nanite garantiert genaue Messungen, ohne die Integrität Ihres Werkstücks zu beeinträchtigen. Mit Nanite können Sie darauf vertrauen, dass Ihre Proben während des gesamten Analyseprozesses intakt und unverändert bleiben. Nahezu grenzenlose Integration Das kompakte NaniteAFM (weniger als 48 x 87 x 61 mm) lässt sich nahtlos in bestehende Anwendersysteme oder in von den Nanosurf-Ingenieuren entwickelte kundenspezifische Tische integrieren. Diese Flexibilität ermöglicht es Forschern, AFM-Funktionen in ihre etablierten Arbeitsabläufe zu integrieren, oft ohne wesentliche Änderungen. Darüber hinaus ermöglicht die Skriptschnittstelle des Geräts den Anwendern die Integration der AFM-Kontrolle in ihre bestehenden Systeme oder die Nutzung von Nanosurfs Expertise bei der Entwicklung von Tischen und Automatisierungsfunktionen.