AFM-Mikroskop Alphacen 300

Industrieautomatisiert

Das Alphacen 300 System ist eine einzigartige AFM-Lösung, die große und schwere Proben problemlos handhaben kann. Es verfügt über den Flex-Mount-Scankopf, dessen Spitzen-Scanner-Design unabhängig von Probengröße und -gewicht eine leistungsstarke Bildgebung ermöglicht. Der CX-Controller, der fortschrittlichste AFM-Controller von Nanosurf, bietet eine schnelle und präzise Steuerung des Scanprozesses. Die spezielle Schallschutzhaube reduziert externe Geräusche und Vibrationen. Darüber hinaus kann das System mit zusätzlichen Translations- oder Rotationsachsen an Ihre spezifische Probe angepasst werden. Kein anderes AFM-System bietet eine solche Vielseitigkeit und Funktionalität. - Das Design des Spitzenscanners gewährleistet eine hochwertige Bildgebung unabhängig von Probengröße und -gewicht - Proben bis zu 300 mm x 300 mm und 45 kg - Ein spezielles Schallschutzgehäuse zur Minimierung von externen Geräuschen und Vibrationen - Kann als Basis für kundenspezifische Lösungen dienen Spitzen-Scanner-Design für die Forschung Der Alphacen 300 nutzt die bewährte Forschungs-Scankopf-Technologie von Nanosurfs FlexAFM und liefert hochwertige Bilder und zuverlässige Leistung. Der Scanner verfügt über ein flexibles Spitzendesign, das flaches und lineares Scannen, hohe Auflösung und stabilen Betrieb gewährleistet. Große und schwere Proben Das Alphacen 300 ist ein AFM mit Spitzenabtastung, das große und schwere Proben problemlos handhaben kann. Mit diesem Gerät können Sie Proben von bis zu 300 mm x 300 mm Größe und bis zu 45 kg Gewicht messen. Mit dem 50-mm-Z-Ansatztisch können Sie auch dicke Proben mühelos montieren.