Rasterkraftmikroskop NaioAFM

Messfür LehrzweckeOberflächenrauheit

Das NaioAFM ist das ideale Rasterkraftmikroskop für die Nanoschulung und die Grundlagenforschung an kleinen Proben. Dieses All-in-One-AFM-System bietet eine solide Leistung und eine einfache Handhabung, und das zu einem Preis und auf einer Stellfläche, die für jeden und überall geeignet ist. - Plug-and-Play-AFM-System in einem - Alle Standardbetriebsarten - Gewohnt einfache Bedienung All-in-One Plug-and-Play AFM-System Das NaioAFM-System besteht nur aus dem Scankopf, der auf einer kleinen schwingungsisolierten Plattform mit integrierter Steuerung montiert ist. Es dauert nur wenige Minuten, um es einzurichten und für eine Messung vorzubereiten. Das NaioAFM ist ideal für einen Universitätskurs oder ein Klassenzimmer geeignet. Es ist robust konstruiert und unempfindlich gegenüber unvorsichtiger Handhabung durch unerfahrene Benutzer, wobei es bei einer Vielzahl von Proben gute Ergebnisse erzielt. Alle Standard-Betriebsmodi Der NaioAFM verfügt trotz seines einfachen Designs über eine vielseitige Auswahl an Messmodi. Das NaioAFM ist in der Lage, in allen Standardbetriebsarten zu messen, und es kann sogar grundlegende elektrische Charakterisierung und grundlegende Kraftspektroskopie durchführen. Wenn Sie das AFM erlernen oder nur grundlegende AFM-Funktionen für Ihre Forschung benötigen, ist das NaioAFM seit mehr als einem Jahrzehnt das Instrument Ihrer Wahl. Es dauert nur 10 Minuten, um es zu erlernen Das NaioAFM ist das am einfachsten zu bedienende Rasterkraftmikroskop, das je gebaut wurde. Dank eingebauter Hilfsmittel wie dem Cantilever-Ausrichtungschip brauchen Sie nicht einmal eine ruhige Hand, um dieses AFM für Messungen einzurichten. Es erfordert nicht einmal eine Laserausrichtung - schließen Sie einfach alles an, platzieren Sie einen Cantilever und Ihre Probe, und Sie erhalten in wenigen Minuten Ihre ersten Ergebnisse.