Optisches Testmodul ML4039-JIT-ATE

DichtheitDetektorLabor

Die Serie ML4039-JIT-ATE ist ein hochmoderner, vierspuriger Impulsmustergenerator und Fehlerdetektor mit Jittergenerator. Er ist vollständig ausgestattet für Labor- und Produktionstests von Systemen, Komponenten und elektro-optischen Modulen. Wesentliche Merkmale Verfügbar in ATE-Formfaktoren 8.5-15 und 21-30 Gbps Datenrate Geringer intrinsischer Jitter Automatisierte J2/J9-Messung Integrierter Synthesizer Messung der Augenkontur Bathtub-Messung Intuitive, umfassende GUI Fenster- und Linux-API-Funktionen Reproduzierbare, rückführbare Messung Software-Funktionen Bietet LabVIEW-Treiber Mehrere Module können über Fast Ethernet 100 BASE-TX gesteuert werden Ziel-Anwendungen Interconnect-Prüfung CFP2, CFP4, QSFP28 Backplane-Tests Interferenz- und Crosstalk-Tests Empfindlichkeitstests für Empfänger Prüfung der Jittertoleranz von Empfängern Testen von elektro-optischen Modulen Elektrisch beanspruchte Augentests für 100 Gbps Ethernet, MLD/CAUI-Anwendungen, OIF CEI-28GVSR, CPPI-4, CAUI-4, 32G Fiber Channel Chip zu Modul