Automatisches Prüfgerät AT4080

für WaferdifferentialHochgeschwindigkeit

Der AT4080 gehört zur Familie der Hochgeschwindigkeitsmessgeräte von Multilane für den Test von Wafern und gehäusten Siliziumbauteilen in der Großserienfertigung. Der AT4080 ist eine vollständig integrierte Erweiterung des V93000-Testers und nutzt die Vorteile der V93000 Smartest-Softwaretools und der Docking-Mechanik voll aus. Der AT4080 besteht aus 4 differentiellen Sendekanälen, die mit anderen AT-Geräten des V93000 synchronisiert werden können. Die Multilane-Instrumente befinden sich direkt unter dem Loadboard, was eine minimale Koaxialkabellänge zwischen den Instrumenten und dem zu testenden Gerät (DUT) ermöglicht. SMPM-Blindmate-Koaxverbindungen zwischen den Instrumenten und dem Loadboard ermöglichen einen schnellen Wechsel des DUT-Loadboards während der Produktionstests.