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Software / FEM für mechanische Ermüdungsanalysen Underfill
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Eigenschaften
- Funktion
- FEM für mechanische Ermüdungsanalysen
Beschreibung
Anwendbares IndustriesIC PackagingEnhancements von Underfill MoldingDue zum niedrigen Koeffizienten der thermischen Expansion Halbleiterchipmaterialien, Deformation tritt häufig in einem thermischen Zyklus auf. Die unerwartete Deformation verursacht mechanische Ermüdung und führt, um Defekte zu löten oder Brechenprobleme. Deshalb ist Underfill-Formteil entwickelt worden, um die Qualitätszuverlässigkeit des Halbleiterchips zu erhöhen.Herausforderungen in Underfill-Simulation berechnen die Oberflächenspannungskraft aufspüren genau die Stabilität von Schmelze-advancementExplore Moldex3D Fähigkeiten sichtbar machen das Oberflächenspannungsverhalten unter encapsulant, Stöße und Substrat machen das Füllmuster des dynamischen zugeführten Prozesses sichtbar
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